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原位拉曼系統(tǒng)--實時監(jiān)測半導體薄膜生長全過程

更新時間:2023-09-11 點擊次數:841

原位拉曼系統(tǒng)--實時監(jiān)測半導體薄膜生長全過程


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在半導體工藝中,薄膜沉積是在半導體原材料硅晶圓上分階段生長薄膜的核心工藝。它在半導體電路之間起到區(qū)分、連接和保護作用。由于其厚度非常薄,在晶圓上形成均勻地薄膜具有很高的難度。所以在化學沉積過程中,確認薄膜材料是否正常生長,以及能否產生所需的特定物性,就非常重要。


為了確保薄膜沉積按照預期進行,通常將已長成的薄膜從真空化學氣相沉積(CVD)腔室中取出,然后用分析儀器進行檢查。它被稱為“Ex-Situ"方法,是從外部而不是在腔室內部進行分析。但是,從真空室中取出的薄膜可能會與大氣中的氧氣或水分接觸,從而改變物性,很難進行準確的分析。即使通過分析發(fā)現(xiàn)問題,也需要花費大量的時間和精力來確定問題發(fā)生的時間及原因。


為了解決這個問題,許勛shou 席研究員于3年前成立“創(chuàng)意型融合研究項目"課題,著手進行“化學沉積材料實時沉積膜監(jiān)測技術和設備開發(fā)"的研究。課題結束后同步完成了分析設備的開發(fā),并與半導體材料企業(yè)合作進行商業(yè)化。


許勛shou 席研究院研究組開發(fā)的設備與以往不同,其特點是能夠實時分析硅晶圓腔內形成薄膜的全過程。這不是“Ex-Situ"方式,而是“In-Situ"方式。從形成薄膜到完成,可以分析整個過程的機制。制造半導體薄膜材料的企業(yè)、制造工藝設備的企業(yè)、三星電子或SK海力士等制造半導體的企業(yè)都可以派上用場。


shou 席研究員許勛表示:“我們開發(fā)出了可以在任何時間點觀察和分析CVD腔室的薄膜沉積過程的設備",“不僅可以在半導體領域使用,還可以在OLED材料、二次電池用電極材料、太陽能電池用電極材料等多個領域使用。"


研究組利用拉曼光譜作為分析薄膜材料沉積過程的主要檢測手段。拉曼光譜法使用“拉曼效應",當單色光在氣體、透明液體和固體中照射時,散射光中的波長略有不同。使用這種現(xiàn)象分析拉曼光譜可以獲得有關材料結構的信息。在 CVD 腔室中安裝 In-situ 拉曼,就可以在形成薄膜的腔室中實時分析薄膜材料的濃度、晶體結構、結晶性等性能。此外,還可以檢驗化學沉積過程中所需的化合物氣體、反應氣體、薄膜生長溫度、生長時間等工藝條件,以找到zui 佳工藝方案。


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研究組還開發(fā)了通過分析半導體薄膜物性來推斷遺傳率的分析技術。介電率是指在電場中產生電極化的程度。例如SiO2是一種傳統(tǒng)的層間絕緣材料,但由于介電率高,在實現(xiàn)高密度和高速化方面存在問題,就可以通過沉積具有低電離電特性的電介質來補充。再通過磷酸光光譜法確定其沉積過程和處理條件的物性變化。


為了確保所需遺傳率特性的薄膜的正確產生,研究組將能夠產生紫外線(UV)區(qū)域和可見光(可見光)區(qū)域激光的拉曼光譜源組成復合型拉曼。成功的對具有低介電率特性的SiOCH薄膜形成過程和具有較高遺傳率的二氧化鈦(TiO2)薄膜形成過程進行實時監(jiān)測并對薄膜物性進行實時分析。


shou 席研究員許勛表示:“為了確認開發(fā)的系統(tǒng)的可重復性,通過相同工藝的薄膜生長和分析驗證了設備的可靠性",“使用企業(yè)提供的薄膜材料樣品,成功啟動和演示了設備,確保了企業(yè)的適用性和實用性。為了滿足如三星電子、SK海力士等國內半導體工藝專家的客戶要求,還主動跟蹤回訪,解決相關問題。"


研究組開發(fā)的設備還有望幫助開發(fā)新的半導體薄膜材料。shou 席研究員許勛表示:“克服了現(xiàn)有分析方法的局限性,可以減少薄膜分析的時間和精力",“目前,由于日本出口限制,材料及零部件、設備研究開發(fā)變得尤為重要,本研究組的目標就是是幫助缺乏設備開發(fā)和投資余力的中小企業(yè)開發(fā)半導體材料源技術。


本項目中使用的Nanobase生產的顯微共焦拉曼系統(tǒng)采用透射式體相全息光柵的結構設計,和傳統(tǒng)的反射式光柵相比,效率曲線均勻,且具備更高的效率,十分擅長針對微弱信號進行探測。以較高的靈敏度和穩(wěn)定性保障了項目的順利實施。du 特的振鏡掃描技術能夠在樣品不動的情況下實現(xiàn)快速的二維成像mapping,使得原位探測的同時還可以進行成像分析成為了可能。


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