微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x

簡(jiǎn)要描述：微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方。顯微分光光度計(jì) (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時(shí)結(jié)合顯微鏡，用于小點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量。

產(chǎn)品型號(hào)：MPROBE 40 MSP
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2022-04-13
訪問(wèn) 量：1371

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品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合
微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x	MPROBE 40 MSP

微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方。顯微分光光度計(jì) (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時(shí)結(jié)合顯微鏡，用于小點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量，用于數(shù)千種應(yīng)用程序，并提供完整的標(biāo)準(zhǔn)模型系列來(lái)支持它們。微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測(cè)量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長(zhǎng)范圍和分辨率來(lái)區(qū)分，這反過(guò)來(lái)又決定了可以測(cè)量的厚度范圍。

<strong><strong>微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x</strong>-MPROBE 40 MSP</strong>

應(yīng)用：

1. 測(cè)量圓柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲的表面上，小點(diǎn)也會(huì)產(chǎn)生平坦的場(chǎng)以實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。

2. 不均勻、粗糙的涂層或光散射材料，如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測(cè)量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領(lǐng)域的小區(qū)域測(cè)量的應(yīng)用。

基本規(guī)格：

精度	0.01nm或0.01%
準(zhǔn)確度	0.2%或1nm
穩(wěn)定性	0.02nm或0.03%
聚焦點(diǎn)尺寸	0.2mm或0.4mm
樣品尺寸	>20mm
厚度范圍	0.05-70um
波長(zhǎng)范圍	400-1000nm

選型列表：

MProbe 40	波長(zhǎng)范圍	厚度范圍
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm -75μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根據(jù)要求設(shè)計(jì)定制探頭

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