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膜厚測(cè)量?jī)x的8個(gè)使用注意事項(xiàng)

更新時(shí)間:2023-02-06 點(diǎn)擊次數(shù):634
   膜厚測(cè)量?jī)x可以用來在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。 目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。
  膜厚測(cè)量?jī)x的8個(gè)使用注意事項(xiàng):
  測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
  測(cè)量注意事項(xiàng):
  1.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
  2.測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
  3.測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
  4.測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
  5.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
  6.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7.在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
  8.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

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